نویسندگان

چکیده

با توجه به افزایش روز افزون استفاده از قطعات تجاری (COTS) در زیرسیستم‌ها و سامانه‌های فضایی، اطمینان از صحت عملکرد این قطعات در محیط فضا اجتناب‌ناپذیر است. میکرو کنترلر 8 بیتی AT90CAN به دلیل کارایی بالا، ساختار ساده، مصرف توان پایین و قابلیت مدیریت باس CANدر طراحی برخی از ماژول‌های ماهواره مورد استفاده قرار گرفته است و برای اطمینان از صحت عملکرد در مأموریت‌های LEOبا طول عمر حداقل سه سال، لازم است این قطعه تست‌های تشعشع را با موفقیت پشت سر گذارد. هدف این مقاله ارائه نتایج تست‌های TIDروی این قطعه و صلاحیت‌سنجی آن برای مأموریت‌های بیش از سه سال است.

کلیدواژه‌ها

عنوان مقاله [English]

Total Ionizing Dose Test on AT90CAN128 MicroController

نویسندگان [English]

  • V. Sedghi
  • M. Safavi Homami

چکیده [English]

Rapid growth in using Commercial of The Shelf (COTS) components in Space missions compelled the researchers to evaluate the performance of this components in space environment. AT90CAN128 commercial microcontroller is used in AutSat mission due to high performance, simple structure, low power consumption and the ability of CAN bus management. In this paper the result of Total Ionizing Dose test on this microcontroller is presented. These results confirm the possibility of using this microcontroller for our satellite with minimum 3 years life cycle.

کلیدواژه‌ها [English]

  • microcontroller
  • AT90CAN
  • COTS
  • TID Test
  1. Tribble, A., The Space Environment, Princton University Press, New Jersey, 2003.
  2. European Committee for Space Standardization, Calculation of Radiation and Its Effects and Margin Polic, ECSS-E- 10-12A, Noordwijk, Netherlands, 2010.
  3. European Committee for Space Standardization, Calculation of Radiation and Its Effects and Margin Policy handbook, ECSS-E-HB-10-12A, Noordwijk, Netherlands, 2010.
  4. Department of Defence, Test Method Standard Microcircuit, MIL-STD-883E, 1996.
  5. European Space Components Coordination, Total Dose Steady-State Irradiation Test Method, ESCC Basic Specification No. 22900, 2010.
  6. European Committee for Space Standardization, Worst Case Circuit Performance Analysis,ECSS-Q-30-01, Noordwijk, Netherlands, 2010.