رضا امیدی قوشه بلاغ؛ کریم محمدی
دوره 5، شماره 3 ، مهر 1391
چکیده
یکی از خطاهای شایع در سیستم‌های ماهواره‌ای رخداد خطای واژگونی بیت (SEU) در بخش‌های الکترونیکی است. با توجه به هزینه بالای طراحی، پیاده‌سازی و پرتاب ماهواره‌ها، برای مقابله با این اثر نامطلوب در سطوح گوناگون و به روش‌های مختلف تکنیک‌های مقاومسازی استفاده می‌شود. یکی از مهمترین معیارهای پذیرش این روش‌ها، درجه قابلیت اطمینان آنهاست. ...
بیشتر
یکی از خطاهای شایع در سیستم‌های ماهواره‌ای رخداد خطای واژگونی بیت (SEU) در بخش‌های الکترونیکی است. با توجه به هزینه بالای طراحی، پیاده‌سازی و پرتاب ماهواره‌ها، برای مقابله با این اثر نامطلوب در سطوح گوناگون و به روش‌های مختلف تکنیک‌های مقاومسازی استفاده می‌شود. یکی از مهمترین معیارهای پذیرش این روش‌ها، درجه قابلیت اطمینان آنهاست. تعیین نرخ خرابی SEUفاکتور بسیار مهمی در تحلیل قابلیت اطمینان سیستم تحت این شرایط است. بر مبنای نرخ SEUعلاوه بر تعیین قابلیت اطمینان، الزامات برخی روش‌های مقاومسازی نیز مشخص می‌گردد. یکی از عملی‌ترین روش‌ها جهت محاسبه SEUهای ناشی از پروتون‌ها عبارت است از اندازه‌گیری سطح مقطع مؤثر SEUدر یک انرژی مشخص پروتون و سپس استفاده از روش ارائه شده توسط ویبال برای پیداکردن نرخ SEUدر هر محیط پروتونی. در این مقاله برای ماهوارههای واقع در سطح LEOو به طور خاص دو ماهواره ملی امید و رصد، با بررسی و مدل‌سازی مداری و با لحاظ کردن اثر شیلد، نرخ دوز یونیزه جمع‌شونده و آهنگ رخداد SEUطبق روش ویبال تعیین شده است. همچنین با تعیین چگالی پروتون‌های عرضه شده بر ماهواره، نرخ واقعی SEUو نرخ متغیر با زمان آنتعیین و بر مبنای آن زمان بازیابی بخش‌های حساس نسبت به واژگونی بیت ارائه شده است.
