نویسندگان

اصفهان - هسته ای

چکیده

هنگامی‌که قطعات الکترونیکی در معرض تابش نوترون قرار می‌گیرند بر اثر اندرکنش‌های نوترون در این قطعات، مشخصات الکتریکی آنها مانند ظرفیت خازنی، جریان بایاس معکوس، طول عمر حامل اقلیت و غیره ... تغییر می‌کنند. این تغییرات بسیار مهم است تا آنجا که ممکن است عملکرد قطعه را مختل کرده و آن را از کار بیندازد. بنابراین اندازه‌گیری میزان آسیب ناشی از نوترون در این قطعات بسیار ضروری است. یکی از مهم‌ترین پارامترهایی که در بیان آسیب وارده به قطعات الکترونیکی به‌کار می‌رود، ثابت آسیب جریان معکوس αاست. این ثابت (α)، شیب نمودار جریان معکوس بر حسب شارش است که نشان‌دهندة تغییرات جریان معکوس بر حسب شارش است. هدف از انجام این کار اندازه‌گیری ثابت آسیب جریان معکوس αبرای دیودهای 1N4007، BYV27و BYV95در ولتاژها و دماهای مختلف است. این دیودها در راکتور تحقیقاتی تهران پرتودهی شدند و نتایج به‌دست آمده با روابط تئوری انطباق خوبی دارد.

کلیدواژه‌ها

عنوان مقاله [English]

Measurement of Neutron Irradiation Effect on Reverse Current Damage Constant α for Diode

نویسندگان [English]

  • امیر حسینی
  • سیدامیرحسین فقهی
  • حمید جعفری
  • میربشیر آقایی

چکیده [English]

When the electronic components are exposed to neutron irradiation, electrical properties change by interaction of neutrons in these parts such as capacitance, reverse bias current, the minority carrier lifetime, etc. These changes are very important, so that may impair the performance of the device and disable it. So the measurement of the damage by neutrons in these parts is necessary. One of the most important parameters for expressing the damage to electronic components is a constant, α that is the inverse current of the damage.The constant (α) is the slope of the reverse current curve versus the radiation flux. The aim of this work is measurement of the damage reverse current of constant α for diodes 1N4007, BYV27 and BYV95 in various voltages and temperatures.These diodes have been irradiated at the Tehran Research Reactor by fission neutron spectrum.The results are in good agreement with the theoretical relations.

کلیدواژه‌ها [English]

  • Damage reverse current
  • Neutron irradiation
  • Displacement damage
  • Diode